机译:新兴CMOS技术中的工艺变化效应,金属门功函数起伏和随机掺杂物起伏
机译:高级CMOS工艺技术节点中应力/应变映射和随机掺杂剂波动的作用
机译:随机掺杂波动(RDF)对90和65 nm CMOS技术单事件漏洞的影响
机译:纳米级CMOS技术中随机掺杂波动下的稳健感测放大器设计
机译:纳米级CMOS中的低功耗,坚固耐用和高性能电路设计。
机译:180Vpp集成线性放大器用于高压CMOS SOI技术中的超声成像应用
机译:过程变化效应,金属栅极工作函数波动和新兴CMOS技术中的随机掺杂波动
机译:用于固定目标实验的随机定时输入的LBL(劳伦斯伯克利实验室)CmOs集成放大器/鉴别器的研究